RÖNTGEN

Bei Anwendungen der Röntgenfluoreszenzanalyse (XRF), der energiedispersiven Spektroskopie (EDS) und der Elektronenmikroskopie ist die Detektorleistung grundsätzlich durch temperaturabhängige Rauschmechanismen begrenzt.

Leckstrom und elektronisches Rauschen steigen mit zunehmender Temperatur stark an.

Schon eine Temperaturschwankung von 1 ℃ kann zu einem deutlichen Anstieg des Rauschens führen, was folgende Auswirkungen hat:

1. Verschlechterte Energier Auflösung

2. Verbreiterung der Peaks und Überlappung benachbarter Elementlinien

3. Vermindertes Peak-zu-Untergrund-Verhältnis

4. Geringe Genauigkeit und Wiederholbarkeit bei der Elementidentifizierung

Eine präzise und stabile Temperaturregelung ist daher eine Voraussetzung für die Röntgendetektion mit hoher Auflösung.

Durch aktive Kühlung und Stabilisierung des Detektors im Bereich von −20 °C bis −60 °C ermöglicht die TEC-Kühlung:

1. Eine optimierte Energieauflösung von ca. 125 eV bei 5,9 keV

2. Eine Verbesserung des Peak-zu-Untergrund-Verhältnisses um das 3- bis 5-Fache

3. Niedrigere Nachweisgrenzen im ppm-Bereich

4. Schmalere Spektralpeaks und deutlichere Trennung der Elemente

5. Ein stabiles Detektorverhalten während langer Messzyklen

1. Festkörperbauweise ohne bewegliche Teile → hohe Zuverlässigkeit und lange Lebensdauer

2. Betrieb ohne Vibrationen → keine Auswirkung auf die Spektralstabilität

3. Präzise Temperaturregelung (±0,1 °C typisch) → konsistente Energiekalibrierung

4. Kompakt und integrierbar → geeignet für TO-8- und andere miniaturisierte Detektorgehäuse

5. Orientierungsunabhängig und wartungsfrei → ideal für Labor- und Feldinstrumente

Die folgenden Modelle stellen typische mehrstufige TEC-Modelle dar, die üblicherweise in Anwendungen mit Röntgendetektoren eingesetzt werden. Sie dienen lediglich als Referenz und zum Vergleich, nicht als vollständige Produktliste.