X-RAY

Röntgenfluoreszcencia (XRF), energiakiszórásos spektroszkópia (EDS) és elektronmikroszkópia alkalmazásokban a detektor teljesítményét alapvetően a hőmérsékletfüggő zajmechanizmusok korlátozzák.

A szivárgási áram és az elektronikai zaj gyorsan nő a hőmérséklet emelkedésével.

Már egy 1 ℃-os hőmérséklet-ingadozás is jelentős zajnövekedést eredményezhet, amely a következőkhez vezet:

1. Rosszabbodott energiamegbontás

2. Csúcskiszélesedés és a szomszédos elemi vonalak átfedése

3. Csökkent csúcs–háttér arány

4. Gyenge pontosság és ismételhetőség az elemazonosításban

Ezért a pontos és stabil hőmérséklet-szabályozás előfeltétele a nagy felbontású röntgendetektálásnak.

A detektor aktív hűtésével és stabilizálásával –20 °C-tól –60 °C-ig a TEC-hűtés lehetővé teszi:

1. Az energiaválasztóképesség optimalizálását ~125 eV-ra 5,9 keV-nél

2. A csúcs–háttér arány 3–5-szörös javulását

3. Az érzékenységi határ csökkenését ppm szintre

4. Szűkebb spektrális csúcsokat és egyértelműbb elemi elkülönítést

5. Stabil detektorviselkedést hosszú mérési ciklusok alatt

1. Szilárdtest-konstrukció mozgó alkatrész nélkül → magas megbízhatóság és hosszú élettartam

2. Rezgésmentes működés → nincs hatása a spektrális stabilitásra

3. Pontos hőmérséklet-szabályozás (±0,1 °C tipikus) → egyenletes energiakalibráció

4. Kompakt és integrálható → alkalmas TO-8 és egyéb apró méretű detektorcsomagokra

5. Tetszőleges tájolásra alkalmas és karbantartásmentes → ideális laboratóriumi és terepi műszerekhez

Az alábbi modellek tipikus többfokozatú TEC-modelleket képviselnek, amelyeket gyakran használnak X-sugaras detektorokban. Csak tájékoztatásul és összehasonlítás céljából szolgálnak, nem teljes termékként.