RENTGEN

U rentgenové fluorescence (XRF), energeticky disperzní spektroskopie (EDS) a elektronové mikroskopie je výkon detektoru základně omezen šumovými mechanismy závislými na teplotě.

Unikající proud a elektronický šum rychle rostou s teplotou.

I změna teploty o 1 °C může způsobit výrazný nárůst šumu, což vede k:

1. Zhoršení energetického rozlišení

2. Rozšíření vrcholů a překrytí sousedních prvkových čar

3. Snížení poměru vrchol–podklad

4. Nízká přesnost a opakovatelnost při identifikaci prvků

Přesná a stabilní regulace teploty je proto nezbytnou podmínkou pro rentgenovou detekci s vysokým rozlišením.

Aktivním chlazením a stabilizací detektoru v rozmezí −20 °C až −60 °C umožňuje termoelektrické chlazení (TEC):

1. Optimalizované energetické rozlišení na hodnotu přibližně 125 eV při 5,9 keV

2. Zlepšení poměru vrchol–podklad o 3–5×

3. Nižší meze detekce dosahující úrovně ppm

4. Užší spektrální vrcholy a lepší oddělení prvků

5. Stabilní chování detektoru během dlouhodobých měřicích cyklů

1. Pevný stav bez pohyblivých částí → vysoká spolehlivost a dlouhá životnost

2. Provoz bez vibrací → žádný vliv na stabilitu spektra

3. Přesná regulace teploty (±0,1 ℃ typicky) → konzistentní kalibrace energie

4. Kompaktní a integrovatelné → vhodné pro pouzdra detektorů TO-8 a jiná miniaturizovaná pouzdra

5. Nezávislé na orientaci a bezúdržbové → ideální pro laboratorní i terénní přístroje

Následující modely představují typické vícestupňové modely TEC běžně používané v aplikacích rentgenových detektorů. Jsou uvedeny pouze pro referenční a srovnávací účely, nikoli jako úplný seznam produktů.