รังสีเอ็กซ์

ในการวิเคราะห์ด้วยการเรืองแสงรังสีเอกซ์ (XRF) การวิเคราะห์เชิงพลังงานแบบกระจาย (EDS) และการใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ประสิทธิภาพของตัวตรวจจับถูกจำกัดพื้นฐานโดยกลไกของสัญญาณรบกวนที่ไวต่ออุณหภูมิ

กระแสไหลรั่วและสัญญาณรบกวนทางอิเล็กทรอนิกส์เพิ่มขึ้นอย่างรวดเร็วเมื่ออุณหภูมิสูงขึ้น

แม้การเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิเพียง 1°ซ. ก็อาจทำให้สัญญาณรบกวนเพิ่มขึ้นอย่างมีนัยสำคัญ ส่งผลให้เกิด:

1. ความละเอียดด้านพลังงานลดลง

2. ความกว้างของพีคเพิ่มขึ้น และพีคของธาตุที่อยู่ติดกันทับซ้อนกัน

3. อัตราส่วนของพีคต่อพื้นหลังลดลง

4. ความแม่นยำและค่าซ้ำได้ต่ำในการระบุองค์ประกอบธาตุ

ดังนั้น การควบคุมอุณหภูมิอย่างแม่นยำและเสถียรจึงเป็นข้อกำหนดเบื้องต้นสำหรับการตรวจจับรังสีเอกซ์ความละเอียดสูง

โดยการทำให้ตัวตรวจจับเย็นลงและคงที่อย่างใช้งานได้ที่อุณหภูมิ -20℃ ถึง -60℃ ระบบทำความเย็นแบบ TEC ทำให้เกิด:

1. ความละเอียดด้านพลังงานที่ปรับแต่งให้เหมาะสมที่ ~125 eV ที่ 5.9 keV

2. อัตราส่วนของสัญญาณยอดพีคต่อพื้นหลังดีขึ้น 3–5 เท่า

3. ขีดจำกัดการตรวจจับที่ต่ำลงจนถึงระดับ ppm

4. พีคในสเปกตรัมแคบลง และการแยกแยะองค์ประกอบธาตุชัดเจนยิ่งขึ้น

5. พฤติกรรมของตัวตรวจจับมีความเสถียรตลอดรอบการวัดที่ยาวนาน

1. ออกแบบแบบโซลิดสเตตโดยไม่มีชิ้นส่วนที่เคลื่อนไหว → มีความน่าเชื่อถือสูงและอายุการใช้งานยาวนาน

2. การทำงานที่ไม่ก่อให้เกิดการสั่นสะเทือนเลย → ไม่มีผลกระทบต่อความเสถียรของสเปกตรัม

3. การควบคุมอุณหภูมิอย่างแม่นยำ (±0.1℃ โดยทั่วไป) → การสอบเทียบพลังงานที่สอดคล้องกัน

4. ขนาดกะทัดรัดและสามารถรวมเข้ากับระบบได้ → เหมาะสำหรับบรรจุภัณฑ์ตัวตรวจจับแบบ TO-8 และแบบอื่นๆ ที่มีขนาดเล็ก

5. ไม่ขึ้นกับทิศทางการติดตั้งและไม่ต้องบำรุงรักษา → เหมาะสมยิ่งสำหรับเครื่องมือในห้องปฏิบัติการและภาคสนาม

แบบจำลองต่อไปนี้เป็นตัวอย่างแบบจำลอง TEC แบบหลายขั้นตอนที่นิยมใช้ทั่วไปในแอปพลิเคชันตัวตรวจจับรังสีเอกซ์ แบบจำลองเหล่านี้จัดทำขึ้นเพื่อการอ้างอิงและเปรียบเทียบเท่านั้น ไม่ใช่รายการผลิตภัณฑ์ที่ครบถ้วน