X-RAY

בישומים של פלואורסצנציה באור קרינה X (XRF), ספקטרוסקופיית פיזור אנרגיה (EDS) ומיקרוסקופיה אלקטרונית, ביצועי המגלאים מוגבלים באופן בסיסי על ידי מנגנוני רעש שמתמודדים עם טמפרטורה.

זרם דליפה ורעש אלקטרוני עולים בקצב מהיר עם הטמפרטורה.

גם תנודת טמפרטורה של 1°מֶצִיָה יכולה לגרום לעלייה משמעותית ברעש, מה שמביא ל:

1. ירידה בפתרון האנרגיה

2. הרחבת הפסגות והשתלבותן של קווי יסודות סמוכים

3. ירידה ביחס פסגה לרקע

4. דיוק וחזרתיות נמוכים יותר באישור היסודות

בהתאם לכך, בקרת טמפרטורה מדויקת ויציבה היא תנאי הכרחי לגילוי קרינה רנטגן ברזולוציה גבוהה.

על ידי הקירור הפעיל והיציבות של הגלאי בטווח של 20-°מֶצִיָה עד 60-°מֶצִיָה, הקירור באמצעות TEC מאפשר:

1. אופטימיזציה של פתרון האנרגיה לערך של כ-125 [email protected] keV

2. שיפור יחס הפסגה לרקע פי 3–5

3. גבולות זיהוי נמוכים יותר שמגיעים לרמת ppm

4. ציאור ספקטרלי צר יותר והפרדה יסודית ברורה יותר

5. התנהגות יציבה של הגלאי במהלך מחזורי מדידה ארוכים

1. תכנון מוצק ללא חלקים נעים → אמינות גבוהה ותקופת חיים ארוכה

2. הפעלה חסרת רטט → אין השפעה על יציבות הספקטרום

3. בקרת טמפרטורה מדויקת (±0.1°צ, בדרך כלל) → קליברציה עקיבה של האנרגיה

4. מבנה קטן וניתן לאינטגרציה → מתאים לחבישות גלאי מיקרוסקופיות מסוג TO-8 ואחרות

5. לא תלוי בהגדרת כיוון ודורש שימור מינימלי → אידיאלי למכשירי מעבדה ושדה

המודלים הבאים מייצגים מודלים טיפוסיים מרובה שלבים של מקררים תרמו-אלקטריים (TEC), המשמשים בדרך כלל ביישומים של גלאי קרני רנטגן. הם מוצגים לצורך התייחסות והשוואה בלבד, ולא כרשימה מלאה של המוצרים.