RADIOGRAFIA

Nelle applicazioni di fluorescenza a raggi X (XRF), spettroscopia a dispersione di energia (EDS) e microscopia elettronica, le prestazioni del rivelatore sono fondamentalmente limitate da meccanismi di rumore sensibili alla temperatura.

La corrente di perdita e il rumore elettronico aumentano rapidamente con la temperatura.

Anche una fluttuazione di temperatura di 1 °C può causare un aumento significativo del rumore, portando a:

1. Riduzione della risoluzione energetica

2. Allargamento dei picchi e sovrapposizione delle righe elementari adiacenti

3. Riduzione del rapporto picco/fondo

4. Scarsa accuratezza e ripetibilità nell'identificazione degli elementi

Un controllo preciso e stabile della temperatura è quindi un prerequisito per la rilevazione di raggi X ad alta risoluzione.

Raffreddando e stabilizzando attivamente il rivelatore a una temperatura compresa tra -20 ℃ e -60 ℃, il raffreddamento TEC consente:

1. Risoluzione energetica ottimizzata a circa 125 eV a 5,9 keV

2. Rapporto picco/fondo migliorato di 3–5 volte

3. Limiti di rilevazione più bassi, fino al livello delle parti per milione (ppm)

4. Picchi spettrali più stretti e separazione elementare più chiara

5. Comportamento stabile del rivelatore durante cicli di misurazione prolungati

1. Design a stato solido privo di parti mobili → elevata affidabilità e lunga durata

2. Funzionamento privo di vibrazioni → nessun impatto sulla stabilità spettrale

3. Controllo preciso della temperatura (±0,1 ℃ tipico) → taratura energetica costante

4. Design compatto e integrabile → adatto per involucri di rivelatori TO-8 e altri formati miniaturizzati

5. Indipendente dall’orientamento e privo di manutenzione → ideale per strumenti da laboratorio e da campo

I seguenti modelli rappresentano tipici modelli TEC a più stadi comunemente utilizzati nelle applicazioni per rilevatori a raggi X. Vengono forniti esclusivamente a titolo di riferimento e confronto, non come elenco completo dei prodotti.