RØNTGEN

Ved røntgenfluorescens (XRF), energidispersiv spektroskopi (EDS) og elektronmikroskopi er detektorprestasjonen grunnleggende begrenset av temperaturavhengige støymekanismer.

Lekkasjestrømmen og elektronisk støy øker raskt med temperaturen.

Selv en temperaturendring på 1 ℃ kan føre til en betydelig økning i støy, noe som fører til:

1. Dårligere energiresolusjon

2. Toppspredning og overlapp mellom naboelementlinjer

3. Redusert topp-til-bakgrunn-forhold

4. Dårligere nøyaktighet og repetibilitet ved elementidentifisering

Nøyaktig og stabil temperaturkontroll er derfor en forutsetning for røntgenoppdagelse med høy oppløsning.

Ved aktiv avkjøling og stabilisering av detektoren ved −20 ℃ til −60 ℃ muliggjør TEC-avkjøling:

1. Energioppløsning optimalisert til ca. 125 eV ved 5,9 keV

2. Topp-til-bakgrunn-forhold forbedret med 3–5×

3. Lavere deteksjonsgrenser som når ppm-nivå

4. Smalere spektrale pinner og tydeligere elementseparasjon

5. Stabil detektoroppførsel under lange målesykler

1. Faststoffsdesign uten bevegelige deler → høy pålitelighet og lang levetid

2. Drift uten vibrasjoner → ingen innvirkning på spektralstabilitet

3. Nøyaktig temperaturkontroll (±0,1 ℃ typisk) → konsekvent energikalibrering

4. Kompakt og integrerbar → egnet for TO-8- og andre miniatyrdetektorpakker

5. Uavhengig av monteringsretning og vedlikeholdsfrigjort → ideell for laboratorie- og feltinstrumenter

Følgende modeller representerer typiske flertrinns-TEC-modeller som vanligvis brukes i applikasjoner for røntgendetektorer. De er kun oppgitt som referanse og for sammenligning, ikke som en fullstendig produktliste.