RADIOGRAFÍA

En las aplicaciones de fluorescencia de rayos X (XRF), espectroscopía de dispersión en energía (EDS) y microscopía electrónica, el rendimiento del detector está fundamentalmente limitado por mecanismos de ruido sensibles a la temperatura.

La corriente de fuga y el ruido electrónico aumentan rápidamente con la temperatura.

Incluso una fluctuación de temperatura de 1 °C puede provocar un aumento significativo del ruido, lo que conlleva:

1. Degradación de la resolución energética

2. Ampliación de los picos y solapamiento de las líneas elementales adyacentes

3. Reducción de la relación pico/fondo

4. Precisión y repetibilidad deficientes en la identificación elemental

Un control preciso y estable de la temperatura es, por tanto, un requisito previo para la detección de rayos X de alta resolución.

Al enfriar y estabilizar activamente el detector a una temperatura de -20 ℃ a -60 ℃, el enfriamiento por efecto termoeléctrico (TEC) permite:

1. Resolución energética optimizada hasta ~125 eV a 5,9 keV

2. Relación pico/fondo mejorada en un factor de 3 a 5 veces

3. Límites de detección más bajos, alcanzando niveles de ppm

4. Picos espectrales más estrechos y una separación elemental más clara

5. Comportamiento estable del detector durante ciclos de medición prolongados

1. Diseño de estado sólido sin piezas móviles → alta fiabilidad y larga vida útil

2. Funcionamiento sin vibraciones → sin impacto sobre la estabilidad espectral

3. Control preciso de la temperatura (±0,1 ℃ típico) → calibración de energía constante

4. Compacto e integrable → adecuado para paquetes de detectores TO-8 y otros miniaturizados

5. Independiente de la orientación y sin necesidad de mantenimiento → ideal para instrumentos de laboratorio y de campo

Los siguientes modelos representan típicos modelos de TEC de múltiples etapas comúnmente utilizados en aplicaciones de detectores de rayos X. Se proporcionan únicamente como referencia y para comparación, no como una lista completa de productos.