RÖNTGENFOTO

Bij toepassingen in röntgenfluorescentie (XRF), energiedispersieve spectroscopie (EDS) en elektronenmicroscopie wordt de detectorprestatie fundamenteel beperkt door temperatuurgevoelige ruismechanismen.

Leakagestroom en elektronische ruis nemen snel toe met stijgende temperatuur.

Zelfs een temperatuurschommeling van 1 ℃ kan een aanzienlijke toename van de ruis veroorzaken, wat leidt tot:

1. Verslechterde energieresolutie

2. Uitwaaieren van pieken en overlappende lijnen van aangrenzende elementen

3. Verminderde verhouding piek-tot-ondergrond

4. Slechte nauwkeurigheid en reproduceerbaarheid bij elementidentificatie

Precieze en stabiele temperatuurregeling is daarom een vereiste voor röntgendetectie met hoge resolutie.

Door de detector actief te koelen en te stabiliseren op −20 °C tot −60 °C, stelt TEC-koeling het volgende in staat:

1. Energieresolutie geoptimaliseerd tot ca. 125 eV bij 5,9 keV

2. Piektotachtergrondverhouding verbeterd met een factor 3–5

3. Lagere detectiegrenzen tot ppm-niveau

4. Smallere spectraalpieken en duidelijker scheiding van elementen

5. Stabiel gedrag van de detector tijdens langdurige meetcycli

1. Vaststaand ontwerp zonder bewegende onderdelen → hoge betrouwbaarheid en lange levensduur

2. Vibratievrije werking → geen invloed op spectraalstabiliteit

3. Precieze temperatuurregeling (±0,1 ℃ typisch) → consistente energiecalibratie

4. Compact en integreerbaar → geschikt voor TO-8- en andere miniatuurdetectorverpakkingen

5. Oriëntatie-onafhankelijk en onderhoudsvrij → ideaal voor laboratorium- en veldapparatuur

De volgende modellen zijn representatieve veeltraps-TEC-modellen die veelvuldig worden gebruikt in toepassingen voor röntgendetectors. Ze worden uitsluitend verstrekt als referentie en voor vergelijkingsdoeleinden, niet als een volledige productlijst.