RADIOGRAFIA

Na fluorescência de raios X (XRF), na espectroscopia de dispersão de energia (EDS) e em aplicações de microscopia eletrônica, o desempenho do detector é fundamentalmente limitado por mecanismos de ruído sensíveis à temperatura.

A corrente de fuga e o ruído eletrônico aumentam rapidamente com a temperatura.

Até mesmo uma flutuação de 1 °C na temperatura pode causar um aumento significativo no ruído, levando a:

1. Resolução energética degradada

2. Alargamento dos picos e sobreposição das linhas elementares adjacentes

3. Redução da razão pico-fundo

4. Baixa precisão e repetibilidade na identificação elementar

O controle preciso e estável da temperatura é, portanto, um pré-requisito para a detecção de raios X de alta resolução.

Ao resfriar e estabilizar ativamente o detector entre −20 °C e −60 °C, o resfriamento por TEC permite:

1. Resolução energética otimizada para ~125 eV a 5,9 keV

2. Relação pico-fundo melhorada em 3–5×

3. Limites de detecção mais baixos, atingindo o nível de ppm

4. Picos espectrais mais estreitos e separação elementar mais nítida

5. Comportamento estável do detector durante ciclos prolongados de medição

1. Projeto em estado sólido, sem peças móveis → alta confiabilidade e longa vida útil

2. Operação sem vibrações → sem impacto sobre a estabilidade espectral

3. Controle preciso de temperatura (±0,1 ℃ típico) → calibração de energia consistente

4. Compacto e integrável → adequado para invólucros de detectores TO-8 e outros miniaturizados

5. Independente de orientação e sem necessidade de manutenção → ideal para instrumentos de laboratório e de campo

Os seguintes modelos representam tipicamente modelos de TEC de múltiplos estágios comumente utilizados em aplicações de detectores de raios X. São fornecidos apenas para referência e comparação, não como uma lista completa de produtos.