SINAR-X

Dalam aplikasi fluoresensi sinar-X (XRF), spektroskopi dispersi energi (EDS), dan mikroskopi elektron, kinerja detektor secara mendasar dibatasi oleh mekanisme kebisingan yang sensitif terhadap suhu.

Arus bocor dan kebisingan elektronik meningkat pesat seiring kenaikan suhu.

Bahkan fluktuasi suhu sebesar 1℃ pun dapat menyebabkan peningkatan signifikan pada kebisingan, yang mengakibatkan:

1. Penurunan resolusi energi

2. Pelebaran puncak dan tumpang tindih garis unsur-unsur berdekatan

3. Penurunan rasio puncak terhadap latar belakang

4. Akurasi dan pengulangan yang buruk dalam identifikasi unsur

Oleh karena itu, pengendalian suhu yang presisi dan stabil merupakan prasyarat untuk deteksi sinar-X beresolusi tinggi.

Dengan mendinginkan dan menstabilkan detektor secara aktif pada rentang suhu −20℃ hingga −60℃, pendinginan TEC memungkinkan:

1. Resolusi energi dioptimalkan hingga sekitar 125 eV@5,9 keV

2. Rasio puncak-terhadap-latar belakang meningkat 3–5 kali lipat

3. Batas deteksi yang lebih rendah mencapai tingkat ppm

4. Puncak spektral yang lebih sempit dan pemisahan unsur yang lebih jelas

5. Perilaku detektor yang stabil selama siklus pengukuran berdurasi panjang

1. Desain solid-state tanpa komponen bergerak → keandalan tinggi dan masa pakai panjang

2. Operasi tanpa getaran → tidak berdampak pada stabilitas spektrum

3. Pengendalian suhu yang presisi (±0,1 ℃ khas) → kalibrasi energi yang konsisten

4. Ringkas dan dapat diintegrasikan → cocok untuk paket detektor TO-8 dan paket detektor miniatur lainnya

5. Tidak bergantung pada orientasi dan bebas perawatan → ideal untuk instrumen laboratorium dan lapangan

Model-model berikut mewakili model TEC bertingkat ganda yang umum digunakan dalam aplikasi detektor sinar-X. Model-model ini disediakan hanya untuk tujuan referensi dan perbandingan, bukan sebagai daftar produk lengkap.