RØNTGEN

Ved røntgenfluorescens (XRF), energidispersive spektroskopi (EDS) og elektronmikroskopi er detektorernes ydeevne grundlæggende begrænset af temperaturafhængige støjmekanismer.

Lækstrøm og elektronisk støj stiger kraftigt med temperaturen.

Selv en temperatursvingning på 1 ℃ kan forårsage en betydelig stigning i støjen, hvilket fører til:

1. Dårligere energiopløsning

2. Topbredning og overlapning af naboelementære linjer

3. Formindsket top-til-baggrund-forhold

4. Dårlig præcision og gentagelighed ved elementidentifikation

Præcis og stabil temperaturkontrol er derfor en forudsætning for røntgendetektion med høj opløsning.

Ved aktiv afkøling og stabilisering af detektoren ved −20 °C til −60 °C muliggør TEC-afkøling:

1. Energiopløsning optimeret til ca. 125 eV ved 5,9 keV

2. Top-til-baggrund-forhold forbedret med 3–5×

3. Lavere detektionsgrænser, der når ned på ppm-niveau

4. Smalere spektrale toppe og tydeligere elementadskillelse

5. Stabil detektoradfærd under lange målecyklusser

1. Faststofdesign uden bevægelige dele → høj pålidelighed og lang levetid

2. Drift uden vibrationer → ingen indflydelse på spektralstabilitet

3. Præcis temperaturkontrol (±0,1 °C typisk) → konsekvent energikalibrering

4. Kompakt og integrerbar → egnet til TO-8- og andre miniaturdetektorpakker

5. Uafhængig af orientering og vedligeholdelsesfri → ideel til laboratorie- og feltinstrumenter

De følgende modeller repræsenterer typiske flertrins-TEC-modeller, der almindeligvis anvendes i X-ray-detektorapplikationer. De er udelukkende beregnet som reference og til sammenligning, ikke som en komplet produktliste.