RÖNTGEN

Vid röntgenfluorescens (XRF), energidispersiv spektroskopi (EDS) och elektronmikroskopi är detektorns prestanda i grunden begränsad av temperaturkänsliga brusmekanismer.

Läckströmmen och elektronisk brus ökar snabbt med temperaturen.

Redan en temperaturändring på 1 ℃ kan orsaka en betydande ökning av bruset, vilket leder till:

1. Försämrad energiresolution

2. Förbredning av toppar och överlappning av intilliggande elementlinjer

3. Minskad topp-till-bakgrundsförhållande

4. Dålig noggrannhet och reproducerbarhet vid elementidentifiering

Exakt och stabil temperaturreglering är därför en förutsättning för röntgenupptäckt med hög upplösning.

Genom aktiv kyling och stabilisering av detektorn vid −20 ℃ till −60 ℃ möjliggör TEC-kylning:

1. Energiupplösning optimerad till ca 125 eV vid 5,9 keV

2. Topp-till-bakgrundsförhållande förbättrat med 3–5×

3. Lägre detektionsgränser som når ppm-nivå

4. Smalare spektralpikar och tydligare elementseparation

5. Stabil detektorbeteende under långa mätcykler

1. Fastställd konstruktion utan rörliga delar → hög tillförlitlighet och lång livslängd

2. Drift utan vibrationer → ingen påverkan på spektralstabilitet

3. Exakt temperaturkontroll (±0,1 ℃ typiskt) → konsekvent energikalibrering

4. Kompakt och integrerbar konstruktion → lämplig för TO-8- och andra miniatyrdetektorpaket

5. Oberoende av monteringsriktning och underhållsfri → idealisk för laboratorie- och fältinstrument

Följande modeller representerar typiska flerstegs-TEC-modeller som ofta används i applikationer för röntgendetektorer. De anges endast som referens och för jämförelse, inte som en komplett produktlista.