ZDJĘCIA RENTGENOWSKIE

W zastosowaniach fluorescencji rentgenowskiej (XRF), spektroskopii dyspersyjnej energii (EDS) oraz mikroskopii elektronowej wydajność detektora jest zasadniczo ograniczana przez szczytowe mechanizmy szumu zależne od temperatury.

Prąd upływu oraz szum elektroniczny szybko rosną wraz ze wzrostem temperatury.

Nawet zmiana temperatury o 1 ℃ może spowodować znaczny wzrost szumu, prowadząc do:

1. Zmniejszenia rozdzielczości energetycznej

2. Rozszerzenia pików oraz nakładania się sąsiednich linii pierwiastkowych

3. Obniżenia stosunku sygnału (pik) do tła

4. Niska dokładność i powtarzalność w identyfikacji pierwiastków

Dlatego precyzyjna i stabilna kontrola temperatury jest warunkiem koniecznym do wykrywania promieniowania rentgenowskiego z wysoką rozdzielczością.

Aktywne chłodzenie i stabilizacja detektora w zakresie od −20 °C do −60 °C za pomocą chłodzenia termoelektrycznego (TEC) umożliwia:

1. Zoptymalizowaną rozdzielczość energetyczną na poziomie ok. 125 eV przy 5,9 keV

2. Poprawę stosunku szczyt–tło o 3–5 razy

3. Niższe granice wykrywalności na poziomie ppm

4. Węższe szczyty widmowe i bardziej wyraźne rozdzielenie pierwiastków

5. Stabilne zachowanie detektora podczas długotrwałych cykli pomiarowych

1. Konstrukcję półprzewodnikową bez części ruchomych → wysoka niezawodność i długi czas życia

2. Pracę bez drgań → brak wpływu na stabilność widma

3. Precyzyjna kontrola temperatury (±0,1 ℃ typ.) → spójna kalibracja energii

4. Kompaktowy i łatwy do integracji → odpowiedni dla obudów detektorów typu TO-8 oraz innych miniaturyzowanych obudów

5. Niezależny od orientacji i nie wymagający konserwacji → idealny dla urządzeń laboratoryjnych i polowych

Poniższe modele stanowią typowe wielostopniowe modele TEC powszechnie stosowane w zastosowaniach detektorów promieniowania X. Przedstawiono je wyłącznie w celach informacyjnych i porównawczych, nie jako kompletną listę produktów.