РЕНТГЕН

В рентгеновской флуоресцентной спектроскопии (XRF), энергодисперсионной спектроскопии (EDS) и электронной микроскопии производительность детектора принципиально ограничена шумовыми механизмами, чувствительными к температуре.

Ток утечки и электронный шум быстро возрастают с повышением температуры.

Даже колебание температуры на 1 ℃ может вызвать значительное увеличение шума, что приводит к:

1. Ухудшению энергетического разрешения

2. Расширению пиков и наложению соседних элементных линий

3. Снижению соотношения «пик/фон»

4. Понижению точности и воспроизводимости при идентификации элементов

Следовательно, точный и стабильный контроль температуры является обязательным условием для рентгеновского детектирования высокого разрешения.

Активное охлаждение и стабилизация детектора в диапазоне от −20 ℃ до −60 ℃ с помощью термоэлектрического охлаждения (TEC) обеспечивают:

1. Оптимизацию энергетического разрешения до ~125 эВ при 5,9 кэВ

2. Повышение соотношения «пик/фон» в 3–5 раз

3. Нижние пределы обнаружения на уровне частей на миллион (ppm)

4. Более узкие спектральные пики и более чёткое разделение элементов

5. Стабильное поведение детектора в течение длительных циклов измерений

1. Твёрдотельная конструкция без подвижных частей → высокая надёжность и длительный срок службы

2. Работа без вибраций → отсутствие влияния на стабильность спектра

3. Точное управление температурой (±0,1 °C типично) → стабильная энергетическая калибровка

4. Компактные габариты и возможность интеграции → подходят для корпусов детекторов TO-8 и других миниатюрных корпусов

5. Независимость от ориентации и отсутствие необходимости в техническом обслуживании → идеально подходят для лабораторных и полевых приборов

Приведённые ниже модели представляют типичные многоступенчатые термоэлектрические охладители (ТЕО), широко используемые в рентгеновских детекторах. Они приведены исключительно в справочных и сравнительных целях, а не как полный перечень продукции.