RONTGENS

Rentgena fluorescences (XRF), enerģijas dispersijas spektroskopijas (EDS) un elektronu mikroskopijas lietojumos detektora veiktspēju pamatā ierobežo temperatūras jutīgi trokšņu mehānismi.

Noplūdes strāva un elektroniskais troksnis strauji pieaug ar temperatūras paaugstināšanos.

Pat 1 °C temperatūras svārstības var izraisīt būtisku trokšņa pieaugumu, kas noved pie:

1. Sliktāka enerģijas izšķirtspēja

2. Virsotņu paplašināšanās un blakusesošo elementāro līniju pārklāšanās

3. Zemāka virsotnes pret fona attiecība

4. Zema elementu identifikācijas precizitāte un atkārtojamība

Precīza un stabila temperatūras kontrole tāpēc ir nepieciešama priekšnoteikums augstas izšķirtspējas rentgena staru detekcijai.

Aktīvi dzesinot un stabilizējot detektoru temperatūrā no −20 °C līdz −60 °C, TEC dzesināšana ļauj:

1. Enerģijas izšķirtspēju optimizēt līdz ~125 eV pie 5,9 keV

2. Virsotnes pret fona attiecību uzlabot 3–5 reizes

3. Zemākus detekcijas robežlīmeņus, sasniedzot ppm līmeni

4. Šaurākas spektrālās virsotnes un skaidrāku elementu atdalīšanu

5. Stabila detektora darbība ilgstošu mērījumu ciklu laikā

1. Cietvielas konstrukcija bez kustīgiem daļām → augsta uzticamība un ilgs kalpošanas laiks

2. Darbība bez vibrācijām → bez ietekmes uz spektrālo stabilitāti

3. Precīza temperatūras regulēšana (±0,1 ℃ tipiski) → vienmērīga enerģijas kalibrēšana

4. Kompakts un integrējams → piemērots TO-8 un citiem mazizmēra detektoru korpusiem

5. Neatkarīgs no orientācijas un nepieciešama minimāla apkope → ideāls laboratorijas un lauka instrumentiem

Zemāk minētie modeļi ir tipiski daudzstāvu TEC modeļi, kurus bieži izmanto rentgena detektoru lietojumos. Tie tiek sniegti tikai atsaucei un salīdzināšanai, nevis kā pilns produktu saraksts.