X-RAY

Dalam aplikasi fluoresens sinar-X (XRF), spektroskopi dispersi tenaga (EDS), dan mikroskopi elektron, prestasi pengesan secara asasnya terhad kepada mekanisme hingar yang peka terhadap suhu.

Arus bocor dan hingar elektronik meningkat dengan pesat apabila suhu meningkat.

Bahkan perubahan suhu sebanyak 1℃ sahaja boleh menyebabkan peningkatan ketara dalam hingar, yang mengakibatkan:

1. Penurunan resolusi tenaga

2. Lebar puncak bertambah dan tindih antara garis unsur bersebelahan

3. Nisbah puncak terhadap latar belakang berkurangan

4. Ketepatan dan kebolehulangan yang rendah dalam pengenalpastian unsur

Oleh itu, kawalan suhu yang tepat dan stabil merupakan prasyarat untuk pengesanan sinar-X beresolusi tinggi.

Dengan menyejukkan dan menstabilkan pengesan secara aktif pada suhu −20℃ hingga −60℃, penyejukan TEC membolehkan:

1. Resolusi tenaga dioptimumkan kepada ~125 eV @ 5.9 keV

2. Nisbah puncak terhadap latar belakang meningkat sebanyak 3–5×

3. Had tahap pengesanan yang lebih rendah sehingga mencapai tahap ppm

4. Puncak spektrum yang lebih sempit dan pemisahan unsur yang lebih jelas

5. Kelakuan pengesan yang stabil semasa kitaran pengukuran yang panjang

1. Reka bentuk pepejal tanpa bahagian bergerak → kebolehpercayaan tinggi dan jangka hayat panjang

2. Operasi tanpa getaran → tiada kesan terhadap kestabilan spektrum

3. Kawalan suhu yang tepat (±0.1℃ secara lazim) → kalibrasi tenaga yang konsisten

4. Saiz kecil dan mudah diintegrasikan → sesuai untuk bungkusan pengesan TO-8 dan lain-lain bungkusan pengesan miniatur

5. Tidak bergantung pada orientasi dan bebas penyelenggaraan → ideal untuk instrumen makmal dan lapangan

Model-model berikut mewakili model TEC berperingkat banyak yang biasa digunakan dalam aplikasi pembesar X-ray. Model ini diberikan hanya untuk tujuan rujukan dan perbandingan, bukan sebagai senarai produk lengkap.