एक्स-रे

एक्स-रे फ्लोरोसेंस (XRF), ऊर्जा-विसरण स्पेक्ट्रोस्कोपी (EDS) और इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी अनुप्रयोगों में, डिटेक्टर का प्रदर्शन तापमान-संवेदनशील शोर तंत्रों द्वारा मौलिक रूप से सीमित होता है।

रिसाव धारा और इलेक्ट्रॉनिक शोर तापमान के साथ तेज़ी से बढ़ते हैं।

केवल 1°सेल्सियस का तापमान उतार-चढ़ाव भी शोर में महत्वपूर्ण वृद्धि का कारण बन सकता है, जिससे निम्नलिखित परिणाम होते हैं:

1. ऊर्जा रिज़ॉल्यूशन में कमी

2. आसन्न तत्वीय रेखाओं का शिखर विस्तारन और अतिव्यापन

3. शिखर-से-पृष्ठभूमि अनुपात में कमी

4. तत्वों की पहचान में कम सटीकता और पुनरावृत्तिक्षमता

इसलिए उच्च-रिज़ॉल्यूशन एक्स-रे का पता लगाने के लिए सटीक और स्थिर तापमान नियंत्रण एक अपरिहार्य आवश्यकता है।

डिटेक्टर को सक्रिय रूप से ठंडा करके और -20℃ से -60℃ के बीच स्थिर करके, TEC शीतलन सुविधा प्रदान करता है:

1. ऊर्जा रिज़ॉल्यूशन को ~125 [email protected] keV तक अनुकूलित किया गया

2. शिखर-से-पृष्ठभूमि अनुपात में 3–5 गुना सुधार

3. कम से कम संसूचन सीमा ppm स्तर तक पहुँच गई

4. संकरे स्पेक्ट्रल शिखर और स्पष्ट तत्वीय अलगाव

5. लंबे मापन चक्रों के दौरान स्थिर डिटेक्टर व्यवहार

1. ठोस-अवस्था डिज़ाइन, जिसमें कोई गतिमान भाग नहीं है → उच्च विश्वसनीयता और लंबा जीवनकाल

2. शून्य कंपन संचालन → स्पेक्ट्रल स्थिरता पर कोई प्रभाव नहीं

3. सटीक तापमान नियंत्रण (±0.1℃ आमतौर पर) → सुसंगत ऊर्जा कैलिब्रेशन

4. संक्षिप्त और एकीकृत करने योग्य → TO-8 और अन्य सूक्ष्म डिटेक्टर पैकेज के लिए उपयुक्त

5. दिशा-स्वतंत्र और रखरखाव-मुक्त → प्रयोगशाला और क्षेत्र उपकरणों के लिए आदर्श

निम्नलिखित मॉडल एक्स-रे डिटेक्टर अनुप्रयोगों में आमतौर पर उपयोग किए जाने वाले विशिष्ट बहु-चरणीय टीईसी मॉडलों का प्रतिनिधित्व करते हैं। इन्हें केवल संदर्भ और तुलना के लिए प्रदान किया गया है, पूर्ण उत्पाद सूची के रूप में नहीं।