RÖNTGENKUVAUS

Röntgenfluoresenssissa (XRF), energiadispersiivisessä spektroskopiassa (EDS) ja elektronimikroskopiassa detektorin suorituskykyä rajoittavat perustavanlaatuisesti lämpötilariippuiset kohinamekanismit.

Vuotovirta ja sähköinen kohina kasvavat nopeasti lämpötilan noustessa.

Jo 1 °C:n lämpötilan vaihtelu voi aiheuttaa merkittävän kohinan nousun, mikä johtaa seuraaviin seurauksiin:

1. Huonontunut energiaratkaisukyky

2. Huippujen leveneminen ja vierekkäisten alkuainelinjojen päällekkäisyys

3. Alentunut huippu-tausta-suhte

4. Huono tarkkuus ja toistettavuus alkuaineiden tunnistamisessa

Täten tarkka ja vakaa lämpötilasäätö on edellytys korkearesoluutioiselle röntgenanalyysille.

Aktiivisella jäähdytyksellä ja detektorin vakauttamalla lämpötilassa −20 °C–−60 °C TEC-jäähdytys mahdollistaa:

1. Energiaresoluution optimoinnin arvoon ~125 eV (5,9 keV:n kohdalla)

2. Huippu-taustasuhteen parantamisen 3–5 kertaiseksi

3. Alhaisemmat havaittavuusrajan arvot, jopa ppm-tasolle

4. Kapeammat spektrihuiput ja selkeämmän alkuainetunnistuksen

5. Vakaa detektorin käyttäytyminen pitkien mittausjaksojen aikana

1. Kiinteän rakenteen ilman liikkuvia osia → korkea luotettavuus ja pitkä käyttöikä

2. Värinäneton toiminta → ei vaikutusta spektrin vakauden säilymiseen

3. Tarkka lämpötilansäätö (±0,1 °C tyypillisesti) → johdonmukainen energian kalibrointi

4. Kompakti ja integroitavissa oleva → sopii TO-8- ja muiden pienikokoisten tunnistinpakkausten käyttöön

5. Suunnasta riippumaton ja huoltovapaa → ideaalinen laboratorio- ja kenttälaitteisiin

Seuraavat mallit edustavat tyypillisiä monitasoisia TEC-malleja, joita käytetään yleisesti röntgentutkimuslaitteissa. Ne on annettu vain viitteeksi ja vertailua varten, eivätkä ne muodosta täydellistä tuoteluetteloa.