RÖNTGEN

X-ışını floresansı (XRF), enerji dağılımlı spektroskopisi (EDS) ve elektron mikroskopisi uygulamalarında dedektör performansı, sıcaklığa duyarlı gürültü mekanizmaları tarafından temelde sınırlandırılır.

Sızıntı akımı ve elektronik gürültü sıcaklıkla hızla artar.

Hatta 1℃'lik bir sıcaklık dalgalanması bile gürültüde önemli bir artışa neden olabilir; bu da şu sonuçlara yol açar:

1. Enerji çözünürlüğünde azalma

2. Komşu element çizgilerinde pik genişlemesi ve örtüşmesi

3. Pik/arka plan oranı düşüklüğü

4. Element tanımlamada düşük doğruluk ve tekrarlanabilirlik

Bu nedenle, yüksek çözünürlüklü X-ışını tespiti için hassas ve kararlı sıcaklık kontrolü bir ön koşuldur.

-20 ℃ ile -60 ℃ arasında dedektörü aktif olarak soğutarak ve stabilize ederek TEC soğutma şu avantajları sağlar:

1. Enerji çözünürlüğünün 5,9 keV’te ~125 eV seviyesine optimize edilmesi

2. Pik–arka plan oranı 3–5 kat artırılması

3. Tespit sınırlarının ppm düzeyine düşürülmesi

4. Daha dar spektral pikler ve daha net element ayrımı

5. Uzun ölçüm döngüleri sırasında dedektörün kararlı davranışı

1. Hareketli parçalar içermeyen katı hal tasarımı → yüksek güvenilirlik ve uzun ömür

2. Titreşim içermeyen çalışma → spektral kararlılığa hiçbir etki yapmaz

3. Hassas sıcaklık kontrolü (±0,1 ℃ tipik) → tutarlı enerji kalibrasyonu

4. Küçük boyutlu ve entegre edilebilir → TO-8 ve diğer mini algılayıcı paketleri için uygundur

5. Yerleştirme yönüne bağımlı olmayan ve bakım gerektirmeyen → laboratuvar ve saha cihazları için idealdir

Aşağıdaki modeller, X-ışını dedüktörleri uygulamalarında yaygın olarak kullanılan tipik çok kademe TEC modellerini temsil eder. Bunlar yalnızca başvuru ve karşılaştırma amacıyla verilmiştir; tam bir ürün listesi değildir.